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Chroma Model 58173 LED 全光通量自動(dòng)測試系統(tǒng)
2016-03-18
硬體設(shè)備
半自動(dòng) LED wafer/chip 點(diǎn)測設(shè)備
漏電流測試模組
電源量測單元
光學(xué)測試模組
ESD 測試模組 (選配)
Chroma Model 58173 LED 全光通量自動(dòng)測試系統(tǒng)是一組全新獨(dú)特的量測 LED 全光 通量之自動(dòng)化測試系統(tǒng)。在LED的裸晶與晶粒測 試生產(chǎn)線中，常見使用部份光通量來取代全光通 量之量測方式 (見圖1)。然而，傳統(tǒng)的方式存在 一些缺點(diǎn)，例如：準(zhǔn)確度較低、訊噪比較低、測 試時(shí)間較長等，以致于導(dǎo)入LED 的裸晶與晶粒生 產(chǎn)線時(shí)會發(fā)生問題。
致茂研發(fā)出一種全新、高速且高精確度之 LED 全光通量之量測方式(見圖2)。 這種創(chuàng)新的量測 方式不僅比傳統(tǒng)方式收集更多的 LED 部分光通 量，也明顯的改善提升了量測精確度。
在光學(xué)量測方面，主波長、峰波長、色溫等均可 透過致茂獨(dú)特的光學(xué)設(shè)計(jì)與元件取得精確且穩(wěn)定 快速之?dāng)?shù)據(jù)；在機(jī)構(gòu)方面，58173 搭載一個(gè)6吋 的晶片載盤與校正基座，提供使用者一個(gè)完整 的校正與測試平臺；在電性測試方面，58173 則 具備完整之電源量測單元，無論順向電壓、漏電 流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性，均可于一 次滿足使用者的測試需求。長沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司作為臺灣Chroma公司湖南區(qū)域的總代理，以下為長沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司為您簡單介紹Chroma Model 58173 LED 全光通量自動(dòng)測試系統(tǒng)的技術(shù)參數(shù)及產(chǎn)品特點(diǎn)，如果您想對Chroma Model 58173 LED 全光通量自動(dòng)測試系統(tǒng)有更多的了解，歡迎致電長沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司，聯(lián)系電話：0731-84284278 84284378。更多產(chǎn)品信息歡迎點(diǎn)擊：www.bjdaisi.com.cn。長沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司。
Chroma Model 58173 LED 全光通量自動(dòng)測試系統(tǒng)主要特色：
Chroma Model 58173 LED 全光通量自動(dòng)測試系統(tǒng)提供全方位電性測試 (200V/2A) ，可滿足HV及HP測試
Chroma大面積光偵測器(量測角度可達(dá)128度)
半自動(dòng)精密LED wafer/chip點(diǎn)測設(shè)備
特制Edge Sensor具有點(diǎn)測針壓穩(wěn)定，無疲乏與針壓變動(dòng)問題
機(jī)械視覺定位系統(tǒng)，縮短人工操作時(shí)間
自動(dòng)抽測功能
彈性調(diào)整的軟體操作界面
快速芯片掃描系統(tǒng)
自動(dòng)破片掃描演算法
遮光罩設(shè)計(jì)，杜絕背景光干擾
即時(shí)顯示點(diǎn)測資料分布圖
完善的量產(chǎn)測試統(tǒng)計(jì)報(bào)表及分析工具
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